最先端の半導体ソリューションで新たなマーケット・ニーズを切り拓きます。

Ridgetop社 プロセスばらつきモニタ PDKChek

 

 

 

特徴

  • Die, または Scribeラインに組み込んで、実チップのプロセスばらつきを手軽に計測可能
  • Waferレベルのテスト機器がなくてもOK。設計サイドで、手軽に実チップのプロセスばらつきを計測
  • パッケージング後でも計測可能
  • 計測できる値: ⊿Vth, ⊿R , ⊿Cミスマッチ
  • ミスマッチを0.1%の精度で計測可能
  • 出力はアナログ電圧。簡単な電圧計測メータで計測可